Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie à force atomique (AFM)
| FABRICANT | Bruker |
|---|---|
| MODÈLE | MultiMode 8-HR |
Description générale :
Le MultiMode 8-HR est un microscope à force atomique (AFM) haute résolution permettant l’imagerie à l’échelle nanométrique, des mesures de force de l’ordre du pico-Newton, ainsi qu’une caractérisation nanomécanique avancée, aussi bien en air qu’en milieu liquide.
Il est équipé de l’électronique de contrôle de pointe de Bruker et prend en charge une large gamme de modes d’imagerie et de mesure destinés à la recherche en science des matériaux et en science des surfaces.
Caractéristiques :
- Modes d’imagerie et de force :
- Mode contact
- Mode tapping (oscillant)
- ScanAsyst® : optimisation automatique des paramètres d’imagerie
- PeakForce QNM® : cartographie nanomécanique quantitative
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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