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Catégories
Caractérisation
185
Préparation d'échantillons pour la microscopie électronique
1
Caractérisation spectrométrique et spectroscopique
29
Épaisseur de couches minces
9
Caractérisation électrique
3
Caractérisation électrochimique
6
Caractérisation physico-chimique
21
Caractérisation thermique
8
Microscopie
22
Synthèse de matériaux et traitement de surface
26
Croissance de couches minces et micro/nanoparticules
9
Synthèse de matériaux organiques
1
Structuration de surface par voie électrochimique
1
Procédés 'backend/frontend'
1
Salles blanches
59
Procédés thermiques
7
Gravure
3
Autre type de mise en forme
6
Lithographie optique et électronique
7
Croissance de couches minces et micro/nanoparticules
4
Procédés 'backend/frontend'
3
Mise à l’échelle
39
Procédés 'backend/frontend'
3
Banc d'essai pilote
11
Techniques de caractérisation - grand débit
4
Réacteur
1
Recherche d'équipements
Tag
None
Aligneuse
5
Analyse thermomécanique (TMA)
1
Analyses de surface (TOF-SIMS)
1
Bioréacteur
8
Boîtes à gants
1
Câblage par fil (wire bonding)
1
calorimètre
1
Calorimétrie différentielle à balayage (DSC)
5
chromatographie
1
Chromatographie à phase liquide
2
Composition chimique
1
Dépôt chimique en phase vapeur - LPCVD
1
Dépôt chimique en phase vapeur - PECVD
1
Dépôt par ablation laser
2
Dépôt par canon à électron
1
Dépôt par pulvérisation
1
Dépots centrifuges
4
Diffractomètre rayons X (DRX)
3
Ellipsomètre
5
Évaporation par effet joule
2
Faisceau d'ions focalisé (FIB)
1
fluorimètre
1
Gravure par plasma haute densité de type ICP-RIE
3
Implantation ionique
2
Imprimantes - électronique imprimée
2
Lithographie électronique
2
Mesure d’impédance
1
Mesure de charge et diamètre (potentiel ZETA)
5
Mesure de porosité (BET)
1
Mesures I/V ou C/V ou 4 pointes
3
Microbalance à cristal quartz
1
Microfabrication
4
Microscopie à effet tunnel / microscopie à force atomique (STM/AFM)
4
Microscopie à force atomique (AFM)
10
Microscopie électronique à balayage MEB (SEM)
5
Microscopie électronique en transmission MET (TEM)
1
microscopie optique
1
Nanomouillage (DIP-PEN)
1
Polissage
2
Potentiostat
1
préparation échantillons
7
Préparation tranches fines d'échantillons
1
Profilomètre
4
propriétés mécaniques
1
Recuit par fournaises
3
Recuit rapide (RTA)
3
Résonance magnétique nucléaire (RMN)
2
Scie mécanique
1
Spectrocopie Raman
3
spectrométrie de masse
1
Spectrométrie UV-Vis
1
Spectroscopie Auger
2
Spectroscopie de photoélectrons x (XPS)
4
Spectroscopie Émission Atomique
1
Spectroscopie infrarouge par transformation de Fourier (FT-IR)
6
Spectroscopie RBS
1
Thermogravimétrie (TGA)
3
traitement des eaux
1
traitement thermique
2
Voltamètre cyclique
4
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Catégories mobile
Caractérisation
185
Préparation d'échantillons pour la microscopie électronique
1
Caractérisation spectrométrique et spectroscopique
29
Épaisseur de couches minces
9
Caractérisation électrique
3
Caractérisation électrochimique
6
Caractérisation physico-chimique
21
Caractérisation thermique
8
Microscopie
22
Synthèse de matériaux et traitement de surface
26
Croissance de couches minces et micro/nanoparticules
9
Synthèse de matériaux organiques
1
Structuration de surface par voie électrochimique
1
Procédés 'backend/frontend'
1
Salles blanches
59
Procédés thermiques
7
Gravure
3
Autre type de mise en forme
6
Lithographie optique et électronique
7
Croissance de couches minces et micro/nanoparticules
4
Procédés 'backend/frontend'
3
Mise à l’échelle
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Procédés 'backend/frontend'
3
Banc d'essai pilote
11
Techniques de caractérisation - grand débit
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Réacteur
1
Recherche d'équipements
Tag
None
Aligneuse
Analyse thermomécanique (TMA)
Analyses de surface (TOF-SIMS)
Bioréacteur
Boîtes à gants
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calorimètre
Calorimétrie différentielle à balayage (DSC)
chromatographie
Chromatographie à phase liquide
Composition chimique
Dépôt chimique en phase vapeur - LPCVD
Dépôt chimique en phase vapeur - PECVD
Dépôt par ablation laser
Dépôt par canon à électron
Dépôt par pulvérisation
Dépots centrifuges
Diffractomètre rayons X (DRX)
Ellipsomètre
Évaporation par effet joule
Faisceau d'ions focalisé (FIB)
fluorimètre
Gravure par plasma haute densité de type ICP-RIE
Implantation ionique
Imprimantes - électronique imprimée
Lithographie électronique
Mesure d’impédance
Mesure de charge et diamètre (potentiel ZETA)
Mesure de porosité (BET)
Mesures I/V ou C/V ou 4 pointes
Microbalance à cristal quartz
Microfabrication
Microscopie à effet tunnel / microscopie à force atomique (STM/AFM)
Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie électronique à balayage MEB (SEM)
Microscopie électronique en transmission MET (TEM)
microscopie optique
Nanomouillage (DIP-PEN)
Polissage
Potentiostat
préparation échantillons
Préparation tranches fines d'échantillons
Profilomètre
propriétés mécaniques
Recuit par fournaises
Recuit rapide (RTA)
Résonance magnétique nucléaire (RMN)
Scie mécanique
Spectrocopie Raman
spectrométrie de masse
Spectrométrie UV-Vis
Spectroscopie Auger
Spectroscopie de photoélectrons x (XPS)
Spectroscopie Émission Atomique
Spectroscopie infrarouge par transformation de Fourier (FT-IR)
Spectroscopie RBS
Thermogravimétrie (TGA)
traitement des eaux
traitement thermique
Voltamètre cyclique
Polissage (1PM52-1)
1PM52-1
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Polissage (CP3000)
CP3000
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Câblage par Fil
KS4523
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