1.0IRDQhttps://irdq.ca/en/Lydie Chauviréhttps://irdq.ca/en/author/lydie-chauvire/Analyseur de composant d'onde lumineuse | IRDQrich600338<blockquote class="wp-embedded-content" data-secret="8Jp7GznZKR"><a href="https://irdq.ca/en/equipements/analyseur-de-composant-donde-lumineuse/">Analyseur de composant d’onde lumineuse</a></blockquote><iframe sandbox="allow-scripts" security="restricted" src="https://irdq.ca/en/equipements/analyseur-de-composant-donde-lumineuse/embed/#?secret=8Jp7GznZKR" width="600" height="338" title="“Analyseur de composant d’onde lumineuse” — IRDQ" data-secret="8Jp7GznZKR" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content"></iframe><script type="text/javascript">
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https://irdq.ca/wp-content/uploads/2026/05/Agilent-N4375B.jpg360341FABRICANT Agilent MODÈLE N4375B Description générale : Caractérisation des composants optoélectroniques, de l’émetteur, du récepteur et de leurs sous-composants (lasers, modulateurs et détecteurs). Caractéristiques : N4375B-102: Source à double longueur d’onde. 1310 et 1550nm N4375B-314: 20 GHz, PNA-X à 4 ports N4375B-021: Interface fibre droite, monomode N4375B-050: Ensemble de test avec entrée de source optique […]