Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie à force atomique (AFM)
| FABRICANT | Veeco |
|---|---|
| MODÈLE | Dimension 3000 |
Analyse :
Topographie de surface. Procédés disponibles :
- Contact mode
- Tapping mode
- Image topographique et de phase
Caractéristiques :
- Platine de 6 pouces (150 mm)
- Platine XY avec positionnement manuel
- Contrôleur Nanoscope IIIa
- Logiciel : Nanoscope
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