Teraview EOTPR 2000

FABRICANT TeraView
MODÈLE EOTPR 2000

Description générale :

Identifier et analyser rapidement les défauts d’interconnections des modules d’encapsulation avancés

Caractéristiques :

  • Réflectométrie electro-optique terahertz pulsée
  • Méthode d’isolation rapide et non destructive
  • Localisation des défauts à l’intérieur de la pièce sous stress
  • Exactitude de position du défaut : 10µm
  • Identification des connections faibles
  • Isolation des courts-circuits, circuit ouverts résistifs et non résistifs
  • Résolution des défauts de <5µm
  • Portée du test jusqu’à 150mm

Pour utiliser cet équipement

Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.

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