Teraview EOTPR 2000
Teraview EOTPR 2000
| FABRICANT | TeraView |
|---|---|
| MODÈLE | EOTPR 2000 |
Description générale :
Identifier et analyser rapidement les défauts d’interconnections des modules d’encapsulation avancés
Caractéristiques :
- Réflectométrie electro-optique terahertz pulsée
- Méthode d’isolation rapide et non destructive
- Localisation des défauts à l’intérieur de la pièce sous stress
- Exactitude de position du défaut : 10µm
- Identification des connections faibles
- Isolation des courts-circuits, circuit ouverts résistifs et non résistifs
- Résolution des défauts de <5µm
- Portée du test jusqu’à 150mm
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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