Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X-Pert PRO MRD)
Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X-Pert PRO MRD)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Panalytical |
|---|---|
| MODÈLE | X-Pert PRO MRD |
Échantillons
- Types : poudre, couche mince, céramique…
- Taille d’échantillon : 100 mm (4 po) maximum
- Épaisseur : 5 mm
Applications
- Semi- Semi-quantitatif ou quantitatif
- Mesures de la qualité des couches épitaxiales (Bragg-Brentano, incidence rasante, phi-scan, rocking curve, pôle figure, cartographie dans l’espace réciproque, diffraction in-plane)
- Réflectivité pour déterminer la densité et l’épaisseur des couches minces simples ou multiples
Caractéristiques
- X- Source de rayons X : CuKα, l = 1.542 Å
- Faisceaux parallèle et divergent
- Configuration de mesure horizontale
- Détecteur : proportionnel au gaz
- Plateforme 4 cercles :
- 2θ = -10° à 150°
- Ω = -90° à +90°
- Φ = 0° à 360°
- Ψ = -90° à +90°
- X et Y : 100 mm de déplacement
- Z : 11 mm de déplacement
- Module Rocking Curve et module Parallel Plate Collimator 0.18° (PPC)
Pour utiliser cet équipement
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