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Caractérisation spectrométrique et spectroscopique

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Caractérisation 171

Préparation d'échantillons pour la microscopie électronique 1Caractérisation spectrométrique et spectroscopique 26Épaisseur de couches minces 9Caractérisation électrique 3Caractérisation électrochimique 6Caractérisation physico-chimique 17Caractérisation thermique 8Microscopie 21

Synthèse de matériaux et traitement de surface 26

Croissance de couches minces et micro/nanoparticules 9Synthèse de matériaux organiques 1Structuration de surface par voie électrochimique 1Procédés 'backend/frontend' 1

Salles blanches 59

Procédés thermiques 7Gravure 3Autre type de mise en forme 6Lithographie optique et électronique 7Croissance de couches minces et micro/nanoparticules 4Procédés 'backend/frontend' 3

Mise à l’échelle 39

Procédés 'backend/frontend' 3Banc d'essai pilote 11Techniques de caractérisation - grand débit 4Réacteur 1

Recherche d'équipements

Tag

NoneAligneuse 5Analyse thermomécanique (TMA) 1Analyses de surface (TOF-SIMS) 1Bioréacteur 8Boîtes à gants 1Câblage par fil (wire bonding) 1calorimètre 1Calorimétrie différentielle à balayage (DSC) 5chromatographie 1Chromatographie à phase liquide 2Composition chimique 1Dépôt chimique en phase vapeur - LPCVD 1Dépôt chimique en phase vapeur - PECVD 1Dépôt par ablation laser 2Dépôt par canon à électron 1Dépôt par pulvérisation 1Dépots centrifuges 4Diffractomètre rayons X (DRX) 3Ellipsomètre 5Évaporation par effet joule 2Faisceau d'ions focalisé (FIB) 1fluorimètre 1Gravure par plasma haute densité de type ICP-RIE 3Implantation ionique 2Imprimantes - électronique imprimée 2Lithographie électronique 2Mesure d’impédance 1Mesure de charge et diamètre (potentiel ZETA) 5Mesure de porosité (BET) 1Mesures I/V ou C/V ou 4 pointes 3Microbalance à cristal quartz 1Microfabrication 4Microscopie à effet tunnel / microscopie à force atomique (STM/AFM) 4Microscopie à force atomique (AFM) 10Microscopie électronique à balayage MEB (SEM) 5Microscopie électronique en transmission MET (TEM) 1microscopie optique 1Nanomouillage (DIP-PEN) 1Polissage 2Potentiostat 1préparation échantillons 7Préparation tranches fines d'échantillons 1Profilomètre 4propriétés mécaniques 1Recuit par fournaises 3Recuit rapide (RTA) 3Résonance magnétique nucléaire (RMN) 2Scie mécanique 1Spectrocopie Raman 3spectrométrie de masse 1Spectrométrie UV-Vis 1Spectroscopie Auger 2Spectroscopie de photoélectrons x (XPS) 4Spectroscopie Émission Atomique 1Spectroscopie infrarouge par transformation de Fourier (FT-IR) 6Spectroscopie RBS 1Thermogravimétrie (TGA) 3traitement des eaux 1traitement thermique 2Voltamètre cyclique 4

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Caractérisation 171

Préparation d'échantillons pour la microscopie électronique 1Caractérisation spectrométrique et spectroscopique 26Épaisseur de couches minces 9Caractérisation électrique 3Caractérisation électrochimique 6Caractérisation physico-chimique 17Caractérisation thermique 8Microscopie 21

Synthèse de matériaux et traitement de surface 26

Croissance de couches minces et micro/nanoparticules 9Synthèse de matériaux organiques 1Structuration de surface par voie électrochimique 1Procédés 'backend/frontend' 1

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Procédés thermiques 7Gravure 3Autre type de mise en forme 6Lithographie optique et électronique 7Croissance de couches minces et micro/nanoparticules 4Procédés 'backend/frontend' 3

Mise à l’échelle 39

Procédés 'backend/frontend' 3Banc d'essai pilote 11Techniques de caractérisation - grand débit 4Réacteur 1

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Fluorimètre
Mesure de taille de particules (Partica LA-950)
Spectromètre UV-Vis
Spectroscopie d’émission atomique par plasma à micro-ondes
4210 MP-AES $0.00
Système d’analyse thermogravimétrique couplé avec spectroscopie infrarouge et chromatographie en phase gazeuse/spectrométrie de masse
TGA 8000– FT-IR spectrophotometer (Spectrum Two) - GC (Clarus 690)/MS (Clarus SQ 8 S) PerkinElmer $0.00
Zetasizer (mesure de charge et de diamètre de particules) Nano ZSP
Spectroscopie Auger (JAMP-30 Auger Microprobe)
JAMP-30 Auger Microprobe $0.00
Spectroscopie Auger (NanoSAM)
NanoSAM $0.00
Détection par Recul Élastique (erd)
Accélérateur Tandem 6 MV $0.00
Spectroscopie Infrarouge par Transformée de Fourier (ftir) (FTS6000)
FTS6000 $0.00
Spectroscopie Infra-Rouge par Transformation de Fourier (ftir) (MB-Series A and MB-Series F)
MB-Series A and MB-Series F $0.00
Spectroscopie Infrarouge par Transformée Fourier (ftir) (FTS7000-UMA600)
FTS7000-UMA600 $0.00
Résonance Magnétique Nucléaire (nmr) (Inova 600)
Inova 600 $0.00
Résonance Magnétique Nucléaire (nmr) (Inova 400)
Inova 400 $0.00
Spectroscopie Raman (LabRAM 800)
LabRAM 800 $0.00
Spectroscopie Raman (Invia)
Invia $0.00
Spectroscopie Raman (RM)
RM $0.00
Spectroscopie Rétrodiffusion de Rutherford (rbs)
Accélérateurs Tandetron 1.7 MV et Tandem 6 MV $0.00
Spectrométrie de Masse des Ions Secondaires en Temps de Vol (tof-sims)
NR-9200HR $0.00
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Axis-Ultra)
Axis-Ultra $0.00
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (PHI 5600-ci spectrometer)
PHI 5600-ci spectrometer $0.00
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Escalab MkII)
Escalab MkII $0.00
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Escalab 220i XL)
Escalab 220i XL $0.00
Diffractomètre de Rayons X (xrd) (D8 Advance)
D8 Advance $0.00
Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X-Pert PRO MRD)
X-Pert PRO MRD $0.00
Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X’Pert)
X’Pert $0.00

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