Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X-Pert PRO MRD)

Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X-Pert PRO MRD)

Informations complémentaires

FABRICANT Panalytical
MODÈLE X-Pert PRO MRD

Échantillons

  • Types : poudre, couche mince, céramique…
  • Taille d’échantillon : 100 mm (4 po) maximum
  • Épaisseur : 5 mm

Applications

  • Semi- Semi-quantitatif ou quantitatif
  • Mesures de la qualité des couches épitaxiales (Bragg-Brentano, incidence rasante, phi-scan, rocking curve, pôle figure, cartographie dans l’espace réciproque, diffraction in-plane)
  • Réflectivité pour déterminer la densité et l’épaisseur des couches minces simples ou multiples

Caractéristiques

  • X- Source de rayons X : CuKα, l = 1.542 Å
  • Faisceaux parallèle et divergent
  • Configuration de mesure horizontale
  • Détecteur : proportionnel au gaz
  • Plateforme 4 cercles :
    • 2θ = -10° à 150°
    • Ω = -90° à +90°
    • Φ = 0° à 360°
    • Ψ = -90° à +90°
    • X et Y : 100 mm de déplacement
    • Z : 11 mm de déplacement
  • Module Rocking Curve et module Parallel Plate Collimator 0.18° (PPC)

Pour utiliser cet équipement

Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.

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