Diffractomètre de Rayons X (xrd) (D8 Advance)

Diffractomètre de Rayons X (xrd) (D8 Advance)

Informations complémentaires

FABRICANT Bruker
MODÈLE D8 Advance

Échantillons

  • Types : poudre, couche mince, céramique…
  • Taille d’échantillon : 38 mm (1.5 po) circulaire maximum
  • Épaisseur : 5 mm

Applications

  • Semi-quantitatif ou quantitatif
  • Mesures en incidence Bragg-Brentano des poudres et en incidence rasante des couches minces
  • Identification des phases cristallines
  • Détermination de la taille des cristallites

Caractéristiques

  • Source de rayons X : CuKα, l = 1.542 Å
  • Faisceau parallèle (miroir de Göbel) et faisceau divergent (mode “poudre”)
  • Configuration θ/2θ (source fixe)
  • Détecteur : scintillateur
  • Four Anton Paar XRK900 pour mesures in-situ en température (20 °C à 900 °C), pression (1 mbar à 10 bars) et atmosphère contrôlée
  • Détecteur 2 Dimensions (GADDS)
Utiliser cet équipement
Catégories : , Étiquette :

Produits similaires

Pour utiliser cet équipement

Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.

Afin de connaître les modalités d’utilisation et les disponibilités, veuillez remplir le formulaire ci-dessous. Après analyse de votre demande, nous prendrons rapidement contact avec vous, afin de vous proposer la meilleure solution disponible.

Revenir au répertoire