Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (PHI 5600-ci spectrometer)
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (PHI 5600-ci spectrometer)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Physical Electronics |
|---|---|
| MODÈLE | PHI 5600-ci spectrometer |
Analyses
- Analyse de la composition de surfaces
- Profondeur étudiée : de 2 à 10 nm
- Éléments étudiés : à partir de Li
Caractéristiques
- Décapage des surfaces possible
- Analyse à angle variable
- Zone d’analyse : de 300 µm2 à 0.8 mm2
Produits similaires
-
Microbalance à Cristal Quartz
QCA922 $0.00 -
Chromatographe à Phase Liquide (LC 1200 Series / 6410 Triple Quadrupole LCMS)
LC 1200 Series / 6410 Triple Quadrupole LCMS $0.00 -
Mesure Quatre Pointe
S-302 $0.00 -
Voltammétrie Cyclique (1470)
1470 $0.00 -
Spectroscopie Auger (JAMP-30 Auger Microprobe)
JAMP-30 Auger Microprobe $0.00
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
Afin de connaître les modalités d’utilisation et les disponibilités, veuillez remplir le formulaire ci-dessous. Après analyse de votre demande, nous prendrons rapidement contact avec vous, afin de vous proposer la meilleure solution disponible.