Spectrométrie de Masse des Ions Secondaires en Temps de Vol (tof-sims)

Spectrométrie de Masse des Ions Secondaires en Temps de Vol (tof-sims)

Informations complémentaires

FABRICANT ION-TOF Gmbh
MODÈLE NR-9200HR

Instrument unique au Québec :

  • Permettant des analyses de avec une très haute résolution en masse (0.0001 uma) et une grande sensibilité de l’ordre du ppb
  • Analyse semi-quantitative de surface : spectroscopie, imagerie et profilage en profondeur.
  • Profondeur étudiée : de 2 – 3 monocouches jusqu’à 1 – 2 micromètres
  • Cartographie possible
  • Résolution latérale : 150 nm

Applications

  • Chimie de surface de solides, incluant des éléments fragiles comme des protéines

Pour utiliser cet équipement

Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.

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