Microscopie à Force Atomique (afm) (Nscriptor)
Microscopie à Force Atomique (afm) (Nscriptor)
Informations complémentaires
| FABRICANT | NanoINK |
|---|---|
| MODÈLE | Nscriptor |
Équipement unique au Québec permettant de faire de la lithographie par nanomouillage (Dip-Pen) :
- Taille d’échantillons : 50 mm maximum
- Épaisseur : 38 mm maximum
Analyses
- Type : mode contacte et mode AC (tapping mode)
- Applications : mesure de taille de particules sur une surface, d’épaisseur de dépôt et de la rugosité des surfaces
Caractéristiques
- Cartographie possible avec une précision de 150 nm
- Résolution latérale : 1 nm
- Plage scanner XYZ : 90 x 90 x 8 µm
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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