Diffractomètre de Rayons X (xrd) (D8 Advance)
Diffractomètre de Rayons X (xrd) (D8 Advance)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Bruker |
|---|---|
| MODÈLE | D8 Advance |
Échantillons
- Types : poudre, couche mince, céramique…
- Taille d’échantillon : 38 mm (1.5 po) circulaire maximum
- Épaisseur : 5 mm
Applications
- Semi-quantitatif ou quantitatif
- Mesures en incidence Bragg-Brentano des poudres et en incidence rasante des couches minces
- Identification des phases cristallines
- Détermination de la taille des cristallites
Caractéristiques
- Source de rayons X : CuKα, l = 1.542 Å
- Faisceau parallèle (miroir de Göbel) et faisceau divergent (mode “poudre”)
- Configuration θ/2θ (source fixe)
- Détecteur : scintillateur
- Four Anton Paar XRK900 pour mesures in-situ en température (20 °C à 900 °C), pression (1 mbar à 10 bars) et atmosphère contrôlée
- Détecteur 2 Dimensions (GADDS)
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