Ellipsomètre (M-2000)
Ellipsomètre (M-2000)
Informations complémentaires
| FABRICANT | J.A. Woollam |
|---|---|
| MODÈLE | M-2000 |
Échantillons
- Taille d’échantillons : jusqu’à 150 mm x 150 mm (6ˮ x 6ˮ)
- Épaisseur : maximum 1 cm
Analyses
- Mesure des indices optiques et épaisseur de couches minces (quantitative)
- Cartographie 3D possible
- Résolution spectrale : 0.05 nm
- Mesure en réflexion
Applications
- Vérification rapide d’épaisseur de photorésine
Caractéristiques
- Longueur d’ondes: 370 nm à 1000 nm
- Porte d’échantillon: petites pièces jusqu’aux gaufres de 150 mm
- Sondes améliorant la résolution jusqu’à 150 µm
Produits similaires
-
Spectroscopie Infrarouge par Transformée de Fourier (ftir) (FTS6000)
FTS6000 $0.00 -
Détection par Recul Élastique (erd)
Accélérateur Tandem 6 MV $0.00 -
Spectroscopie Auger (NanoSAM)
NanoSAM $0.00 -
Spectroscopie Infra-Rouge par Transformation de Fourier (ftir) (MB-Series A and MB-Series F)
MB-Series A and MB-Series F $0.00 -
Chromatographe à Phase Liquide (LC 1200 Series / 6410 Triple Quadrupole LCMS)
LC 1200 Series / 6410 Triple Quadrupole LCMS $0.00
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
Afin de connaître les modalités d’utilisation et les disponibilités, veuillez remplir le formulaire ci-dessous. Après analyse de votre demande, nous prendrons rapidement contact avec vous, afin de vous proposer la meilleure solution disponible.