Ellipsomètre (VVASE)
Ellipsomètre (VVASE)
Informations complémentaires
| FABRICANT | J.A. Woollam |
|---|---|
| MODÈLE | VVASE |
Échantillons
- Taille d’échantillons : maximum 150 mm x 150 mm (6ˮ x 6ˮ)
- Épaisseur : maximum 1 cm
Analyses
- Mesure des indices optiques et épaisseur de couches minces (quantitative)
- Cartographie possible
- Résolution spectrale : 0.05 nm
- Mesures en réflexion ou transmission
Applications
- Mesure d’épaisseur de films anisotropiques
- Mesure de transmission de lentille diélectrique
Caractéristiques
- Longueur d’ondes: de 240 nm à 2500 nm
- Porte-échantillon micrométrique balayant une surface de 45 mm x 45 mm sur échantillon jusqu’à 150 mm
- Analyse ellipsométrique en température de 20 ºC à 300 ºC
- Auto-retardateur pour mesure de dépolarisation
- Sonde de focus pour taille de sonde de 100 µm
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