Fisherscope X-RAY XDV-u
Fisherscope X-RAY XDV-u
| FABRICANT | Fisher Technology |
|---|---|
| MODÈLE | Fischerscope X-RAY XDV-µ |
Description générale :
Analyse des matériaux (sans étalon) ou mesure d’épaisseur (avec étalon d’étalonnage)
Caractéristiques :
- Le diamètre du faisceau de rayons X est de 50 microns
- Énergie primaire réglable entre 50 keV, 40 keV et 30 keV
- Les filtres primaires disponibles sont : aucun, Al 1 000 microns, Al 500 microns ou Ni 10 microns
- Système de caméra à fort grossissement pour l’alignement
- Fonction d’alignement automatique
- Dimensions maximales de l’échantillon : 25 cm x 25 cm x 10 cm
- Incertitude de mesure de l’épaisseur inférieure à 1 nm possible
- Précision de mesure de la concentration de 0,1 %
Pour utiliser cet équipement
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