Microscopie à Force Atomique (afm) (Dimension TM 3100)
Microscopie à Force Atomique (afm) (Dimension TM 3100)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Digital Instruments |
|---|---|
| MODÈLE | Dimension TM 3100 |
Analyses
- Modes : contact, contact intermittent (tapping), nano-indentation
- Pointes disponibles :
- Mode contact : SiN
- Mode contact intermittent : Si d’un radius de 10 nm et 2 nm
- Nano-indentation : Berkovich diamond tip (radius 50 nm)
- Analyse d’échantillons en milieu liquide
Applications
- Détermination topographique, de phases, de paramètres de dureté et d’épaisseur
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