Microscopie Électronique en Transmission (tem)
Microscopie Électronique en Transmission (tem)
Informations complémentaires
| FABRICANT | JEOL |
|---|---|
| MODÈLE | JSM 2100-F |
Échantillons
- Les échantillons sont préparés à l’aide d’un faisceau ionique focalisé dédié à la préparation de lames minces
Analyses
- Imagerie à haute résolution (fond sombre et fond clair)
- Équipé d’un canon à effet de champs fonctionnant à une tension d’accélération de 200 kV et 100 kV
- ésolution latérale : 0.19 nm
Caractéristiques
- Équipement unique au Canada muni d’un canon à effet de champs capable d’une très grande résolution pour l’imagerie et les cartographies rayons X et PEELS
Variantes
Spectrométrie à rayon X à sélection d’énergie (EDS) pour l’analyse chimique
- Analyses qualitatives et quantitatives
- Cartographie possible
Spectrométrie de perte d’énergie des électrons transmis à collection parallèle (PEELS) pour l’analyse chimique et la mesure d’épaisseur
- Analyses qualitatives et quantitatives
- Cartographie possible
Analyse cristallographique
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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