Profilomètre (XP-2)

Informations complémentaires

FABRICANT Ambios
MODÈLE XP-2

Analyses

  • Profondeur étudiée : plus de 50 nm
  • Épaisseur des échantillons : 30 mm max, latitude verticale : 400 µm max
  • Résolution verticale : 1 Å à 10 µm, 15 Å à 100 µm
  • Résolution latérale : 100 nm

Applications

  • Caractérisation de dimensions (hauteur, largeur) de motifs de gravure ou de lithographie
  • Mesure de stress de couches minces
  • Caractérisation de rugosité de surface

Caractéristiques

  • Plateau motorisé de 150 mm x 178 mm
  • Longueur maximum d’un simple scan : 60 mm avec la possibilité de raccorder numériquement les scans jusqu’à 150 mm
  • Force du stylet : 0.5 mg à 10 mg programmable
  • Logiciel de rendu 3D et de mesure de stress
  • Acquisition des scans en format numérique
  • Camera CCD couleur avec zoom motorisé 40x à 160 x
  • Table anti-vibration (Herzan DT-6050MV)
  • Support amovible de 200 mm pour mesure de stress sur gaufres
  • Hauteurs de marche standards 1 micron et 100 nm certifiées NIST
  • Stylets de 40 degrés – 2, 1 et 0.2 µm

Pour utiliser cet équipement

Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.

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