Spectrométrie de Masse des Ions Secondaires en Temps de Vol (tof-sims)
Spectrométrie de Masse des Ions Secondaires en Temps de Vol (tof-sims)
Informations complémentaires
| FABRICANT | ION-TOF Gmbh |
|---|---|
| MODÈLE | NR-9200HR |
Instrument unique au Québec :
- Permettant des analyses de avec une très haute résolution en masse (0.0001 uma) et une grande sensibilité de l’ordre du ppb
- Analyse semi-quantitative de surface : spectroscopie, imagerie et profilage en profondeur.
- Profondeur étudiée : de 2 – 3 monocouches jusqu’à 1 – 2 micromètres
- Cartographie possible
- Résolution latérale : 150 nm
Applications
- Chimie de surface de solides, incluant des éléments fragiles comme des protéines
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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