Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Axis-Ultra)
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Axis-Ultra)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Kratos Analytical |
|---|---|
| MODÈLE | Axis-Ultra |
Analyses
- Appareil multifonctions ayant un système à ultra-haut vide
- Caractérisation en deux dimensions de surfaces hétérogènes par imagerie parallèle XPS résolue en énergie
- Analyse de surfaces couplant 3 techniques de caractérisation : Spectroscopie de photoélectron X (XPS), Ion Scattering Spectroscopy (ISS), Microscopie Auger à Balayage (ASM)
Caractéristiques
- Source double Mg-Al
- Source Al monochromatique
- Analyseur hémisphérique de grand rayon
- Détection à 8 canaux
- Résolution de 0.48 eV sur l’argent
- Réacteur de haute température et de haute pression intégré
MODES
ISS
- Modèle : ISS Kratos-Ultra
- Résolution : 1.2% avec He 1000 eV (Au)
ASM
- Modèle : AES Kratos-Ultra
- Canon 10 keV LAB6
- Résolution spatiale : 0.1 µm
- S/N : de 500 à 500 kcps sur Cu-KLL
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