Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Axis-Ultra)

Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (Axis-Ultra)

Informations complémentaires

FABRICANT Kratos Analytical
MODÈLE Axis-Ultra

Analyses

  • Appareil multifonctions ayant un système à ultra-haut vide
  • Caractérisation en deux dimensions de surfaces hétérogènes par imagerie parallèle XPS résolue en énergie
  • Analyse de surfaces couplant 3 techniques de caractérisation : Spectroscopie de photoélectron X (XPS), Ion Scattering Spectroscopy (ISS), Microscopie Auger à Balayage (ASM)

Caractéristiques

  • Source double Mg-Al
  • Source Al monochromatique
  • Analyseur hémisphérique de grand rayon
  • Détection à 8 canaux
  • Résolution de 0.48 eV sur l’argent
  • Réacteur de haute température et de haute pression intégré

 

MODES

ISS

  • Modèle : ISS Kratos-Ultra
  • Résolution : 1.2% avec He 1000 eV (Au)

ASM

  • Modèle : AES Kratos-Ultra
  • Canon 10 keV LAB6
  • Résolution spatiale : 0.1 µm
  • S/N : de 500 à 500 kcps sur Cu-KLL
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