Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X’Pert)
Diffractomètre de Rayons X (xrd) (X’Pert)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Philips |
|---|---|
| MODÈLE | X’Pert |
Échantillons
- Types : tous les matériaux cristallins (métaux, céramiques, matériaux inorganiques, composites, etc.) sous forme de poudre ou massique
Analyses
- Identification de phases et composés
- Semi-quantitatif ou quantitatif (avec standard)
Applications
- Mesure de stress
- Identification de phase
- Mesure en angle rasant
Caractéristiques
- Deux détecteurs : méthode des poudres (Bragg-Breantano) et angle rasant
- Sources de rayon X interchangeables (Cu ou Co)
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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