Microscopie à Force Atomique (afm) (Dimensions 3100)

Microscopie à Force Atomique (afm) (Dimensions 3100)

Informations complémentaires

FABRICANT Digital Instruments
MODÈLE Dimensions 3100

Échantillons

  • Taille d’échantillons : maximum 101 mm (4ˮ)
  • Épaisseur : maximum 12.7 mm (0.5ˮ)
  • Géométrie ouverte

Analyses

  • Modes : contact, contact intermittent (Tapping), microscopie à force latérale (LMF), microscopie à force magnétique (MFM), microscopie à effet tunnel (STM)
  • Mesures topographiques : quantitatif
  • Mesure de propriétés viscoélastique : qualitatif
  • Cartographie possible : oui
  • Résolution latérale : 2 nm

Applications

  • Mesures en milieu ambiant ou liquide de la topographie
  • Mesures des propriétés mécaniques
  • Mesures de friction
  • Mesures de rugosité
  • Mesures de gradient de champs magnétique
  • Mesures de gradient de champs électrique
  • Mesures de force d’interaction pointe/surface
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