Microscopie à Force Atomique (afm) (Multimode)
Microscopie à Force Atomique (afm) (Multimode)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Digital Instruments |
|---|---|
| MODÈLE | Multimode |
Analyses
- Modes : contact, contact intermittent (Tapping), microscopie à force latérale (LMF), microscopie à force magnétique (MFM), microscopie à effet tunnel (STM), AFM électrochimie
- Mesures topographiques : quantitatif
- Mesure de propriétés viscoélastique : qualitatif
- Cartographie possible
- Résolution latérale : moins de 1.5 nm
- Cellule liquide
- Cellule électrochimique
- Scanner haute résolution
Applications
- Mesure en milieu ambiant ou liquide de la topographie, mesures des propriétés mécaniques, de friction, de gradient de champs magnétique, de gradient de champs électrique, de force d’interaction pointe/surface, électrochimie
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