Microscopie à Force Atomique (afm) (4500 UHV AFM/STM)

Informations complémentaires

Échantillons

• Taille d’échantillons : 7 mm maximum (aire sondée de 3 mm)
• Épaisseur : 2 mm maximum
• Résolution latérale : atomique

Analyses

• Modes: vrai non-contact (feedback en fréquence), contact intermittent (feedback en amplitude) et contact (feedback en déflection)
• Appareil conçu pour faire des mesures sous ultravide ayant la particularité unique d’être couplé avec un microscope électronique à balayage (SEM, résolution de 20 nm) qui permet d’observer et de corriger en temps réel la position de la pointe du STM/AFM sur l’échantillon.                                                                        
• Dimensions idéales: 7mm×3 mm, 0.5 mm hauteur (requises pour le nettoyage-chauffage in-situ)
• Pression de mesure: moins de 5×10-8 Pa.
• Niveau de bruit : ~ 0.05 nm RMS (en Z) avec la pompe turbo arrêtée.
• Dimensions maximales de balayage X et Y: 10 µm, Z: 2 µm
• Signaux additionnels disponibles pendant balayage: friction (toutes les modes), phase et amplitude (modes dynamiques). Le courant peut aussi être mesuré dans toutes les modes d’opération.
• Système d’introduction de gaz pour expériences de déposition et de croissance de molécules sur un substrat quelconque.
• Module de mesure électrostatique / électromécanique: amplificateur Lock-in (Signal Recovery 7265), source de courant DC (Keithley 2400).

Applications

• Étude de la croissance des nanostructures.
• ‘Contraste de matériau’ via la détection de la friction/adhésion (en mode contact) ou de la phase des vibrations du cantilever (en mode contact intermittent).
• Cartographie de la résistance électrique