Microscopie à Force Atomique (afm) (AFM/STM Multimode)

Microscopie à Force Atomique (afm) (AFM/STM Multimode)

Informations complémentaires

FABRICANT Veeco
MODÈLE AFM/STM Multimode

Échantillons

  • Taille d’échantillons : 15 mm maximum
  • Épaisseur : 5 mm maximum
  • Résolution latérale : atomique

Analyses

  • Modes :
    • STM : feedback en courant
    • AFM: contact (feedback en déflection) et contact intermittent (Tapping), feedback en amplitude)
  • Appareil très versatile qui peut être configuré comme microscope à effet tunnel (STM) ou comme microscope à force atomique (AFM), les mesures sont faites à l’atmosphère ambiante

Applications

  • Mesures de routine de la topographie
  • Étude de l’auto-organisation des molécules et leur interaction sur le substrat.
  • ‘Contraste de matériau’ via la détection de la friction/adhésion (en mode contact) ou de la phase des vibrations du cantilever (en mode contact intermittent)      

Caractéristiques

  • Dimensions maximale de balayage:
    • (STM): X and Y: 500 nm, Z: 200 nm
    • (AFM): X and Y: 10 µm, Z: 2.5 µm
  • Signaux additionnels disponibles pendant le balayage: friction (en mode contact), phase (en mode contact intermittent)

TECHNIQUES AVANCÉES

  • Microscopie à Force Magnétique (MFM)
  • Mode à double passage avec boucle PLL pour détecter et suivre la fréquence de résonance
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