Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 7401F)
Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 7401F)
Informations complémentaires
| FABRICANT | JEOL |
|---|---|
| MODÈLE | JSM 7401F |
Échantillons
- Taille d’échantillons : 150 mm maximum
- Épaisseur : 5 mm maximum
Analyses
- Résolution latérale : ~ 1 nm
- Accélération : 0.1 keV à 30 keV
Variantes
- Détection d’électrons rétrodiffusés pour l’analyse de phases
- Détection et quantification des éléments par analyse dispersive en énergie (EDS) pour la détermination de la composition chimique
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
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