Mesures I/V et C/V (Summit 12000)
Mesures I/V et C/V (Summit 12000)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Cascades |
|---|---|
| MODÈLE | Summit 12000 |
Échantillons
- Taille d’échantillons : 200 mm maximum
Applications
- Mesures I/V et C/V
- Mesure de réponse de photodiodes avec fibre optique
- Caractérisation du point de Curie pour matériaux ferroélectriques
- Mesures 4 pointes
Caracteristiques
- Mesures DC et RF (Hewlett Packard 4145A Semiconductor Parameter Analyzer, Keithley 2400 Series SourceMeters)
- Température: -65 °C à 200 °C
- Gaz disponible: N2
- Caméra CCD
- Mesure 4 pointes de résistivité
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