Microscopie à force atomique (AFM)
Microscopie à force atomique (AFM)
| FABRICANT | Park System |
|---|---|
| MODÈLE | NX 20 |
Analyse :
Automatisation des mesures de rugosité et de topographie de surface. Procédés disponibles :
- Contact mode
- Tapping modeImage topographique et de phase
- True Non-contact mode
- PinPoint nanomechanical mode
Caractéristiques :
- Porte-échantillon de 200 mm
- Mouvements X, Y et rotations motorisées
- Grandeur maximum d’image 100 um x 100 um
- Mesure maximale en Z de 15µm
- Logiciel : SmartScan
- Logiciel : Park XEA pour l’automatisation
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