Microscopie à Force Atomique (afm) (AFM/STM Multimode)

Informations complémentaires

Échantillons

• Taille d’échantillons : 15 mm maximum
• Épaisseur : 5 mm maximum
• Résolution latérale : atomique

Analyses

• Modes :
• STM : feedback en courant
• AFM: contact (feedback en déflection) et contact intermittent (Tapping), feedback en amplitude)
• Appareil très versatile qui peut être configuré comme microscope à effet tunnel (STM) ou comme microscope à force atomique (AFM), les mesures sont faites à l’atmosphère ambiante

Applications

• Mesures de routine de la topographie
• Étude de l’auto-organisation des molécules et leur interaction sur le substrat.
• ‘Contraste de matériau’ via la détection de la friction/adhésion (en mode contact) ou de la phase des vibrations du cantilever (en mode contact intermittent)      

Caractéristiques

• Dimensions maximale de balayage:
• (STM): X and Y: 500 nm, Z: 200 nm
• (AFM): X and Y: 10 µm, Z: 2.5 µm
• Signaux additionnels disponibles pendant le balayage: friction (en mode contact), phase (en mode contact intermittent)

TECHNIQUES AVANCÉES

• Microscopie à Force Magnétique (MFM)
• Mode à double passage avec boucle PLL pour détecter et suivre la fréquence de résonance