Microscopie à Force Atomique (afm) (Enviroscope)

Informations complémentaires

Échantillons

• Taille d’échantillons : 50 mm maximum (zone de mesure : 6 mm)
• Épaisseur : 12 mm maximum

Analyses

• Modes: contact (feedback en déflection) et contact intermittent (Tapping)
• Spécialement conçu pour faire des mesures en atmosphère contrôlée (vide ou gaz inerte) et est aussi doté des modules auxiliaires permettant de faire des mesures électriques et électromécaniques

Applications

• Caractérisation de routine de la topographie de surface.
• ‘Contraste de matériau’ via la détection de l’adhésion/friction ou de la phase des oscillations mécaniques du cantilever spécifique à chaque matériau.
• Détection de la piézoélectricité et de l’élasticité des matériaux.
• Détection et contrôle de la polarisation par la réponse piézoélectrique.
• Cartographie de résistance. Cartographie de gradient de champ électrique et/ou magnétique. Cartographie de potentiel de surface.

Caractéristiques

• Résolution latérale : 1 nm
• Pression de mesure: 10-5 à1400 mbar.
• Niveau de bruit : ~ 0.1 nm RMS (en Z) avec la pompe turbo en marche.
• Dimensions maximales de balayage X et Y: 90 µm, Z: 4 µm
• Signaux additionnels disponibles pendant balayage: friction (en mode contact), phase (en mode contact intermittent)
• Module de mesure de courant: préamplificateur Femto (DLPCA 200) et source de courant DC (Keithley 2400).
• Bruit en courant :  < 0.5 pA.
• Module de mesure électromécanique: amplificateur Lock-in (Signal Recovery 7265) et source de courant DC (Keithley 2400).
• Bruit dans le mode de la réponse piézoélectrique < 0.1 pm/V.

TECHNIQUES AVANCÉES

• Microscopie à Force Électrostatique/Magnétique (EFM / MFM)
• Mode à double passage avec boucle PLL pour détecter et suivre la fréquence de résonance
• Microscopie à sonde de Kelvin (détection du potentiel de surface)