Microscopie à Force Atomique (afm) (Multimode)
Microscopie à Force Atomique (afm) (Multimode)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Digital Instruments |
|---|---|
| MODÈLE | Multimode |
Analyses
- Modes : contact, contact intermittent (Tapping), microscopie à force latérale (LMF), microscopie à force magnétique
- (MFM), microscopie à effet tunnel (STM)
- Mesures topographiques : quantitatif
- Mesure de propriétés viscoélastique : qualitatif
- Cartographie possible
- Résolution latérale : 2 nm
- Chambre à vide : 10-5 Torr
- Contrôle de température : ≤185 °C (ambiant); ≤ 275 °C (sous vide); ≤ 60 °C (liquide)
- Cellule liquide
Variante STM
- Microscopie à effet tunnel à bas courant (quantitatif)
- Cartographie possible
- Résolution latérale : atomique
- Imagerie en condition ambiante de surfaces conductrices et semiconductrices avec une résolution atomique
Applications
- Mesure en milieu ambiant ou liquide de la topographie, mesures des propriétés mécaniques, de friction, de rugosité, de gradient de champs magnétique, de gradient de champs électrique, de force d’interaction pointe/surface
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