Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 6300F)

Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 6300F)

Informations complémentaires

FABRICANT JEOL
MODÈLE JSM 6300F

Échantillons

  • Taille d’échantillons : 100 mm (4 po) maximum
  • Épaisseur : 10 mm maximum

Analyses

  • Imagerie de surface à haute résolution
  • Résolution latérale : ~ 3 nm

Variantes

  • Détection d’électrons rétrodiffusés pour l’analyse de phases
  •  Détection et quantification des éléments par analyse dispersive en énergie (EDS) pour la détermination de la composition chimique

Caractéristiques

  • Courant de sonde : 10-12 A à 10-10 A
  • Distance de travail (WD): 3 mm à 53 mm
  • Grossissement : 10X (WD = 39 mm) à 500,000X

 

CANON D’ÉLECTRONS

  • À effet de champ (cathode froide)
  • Tension d’accélération : 0.5 à 30 kV
  • Pointe de Tungstène <310>

DETECTEURS

  • Scintillateur pour les électrons secondaires
  • Si jonction-pn pour les électrons rétrodiffusés
  • Détecteur de rayons X pour analyses EDS (tous les éléments à partir du Carbone)
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