Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (PHI 5600-ci spectrometer)
Spectroscopie de Photoélectrons X (xps) (PHI 5600-ci spectrometer)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Physical Electronics |
|---|---|
| MODÈLE | PHI 5600-ci spectrometer |
Analyses
- Analyse de la composition de surfaces
- Profondeur étudiée : de 2 à 10 nm
- Éléments étudiés : à partir de Li
Caractéristiques
- Décapage des surfaces possible
- Analyse à angle variable
- Zone d’analyse : de 300 µm2 à 0.8 mm2
Pour utiliser cet équipement
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