Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 6300F)
Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 6300F)
Informations complémentaires
FABRICANT | JEOL |
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MODÈLE | JSM 6300F |
Échantillons
- Taille d’échantillons : 100 mm (4 po) maximum
- Épaisseur : 10 mm maximum
Analyses
- Imagerie de surface à haute résolution
- Résolution latérale : ~ 3 nm
Variantes
- Détection d’électrons rétrodiffusés pour l’analyse de phases
- Détection et quantification des éléments par analyse dispersive en énergie (EDS) pour la détermination de la composition chimique
Caractéristiques
- Courant de sonde : 10-12 A à 10-10 A
- Distance de travail (WD): 3 mm à 53 mm
- Grossissement : 10X (WD = 39 mm) à 500,000X
CANON D’ÉLECTRONS
- À effet de champ (cathode froide)
- Tension d’accélération : 0.5 à 30 kV
- Pointe de Tungstène <310>
DETECTEURS
- Scintillateur pour les électrons secondaires
- Si jonction-pn pour les électrons rétrodiffusés
- Détecteur de rayons X pour analyses EDS (tous les éléments à partir du Carbone)
Pour utiliser cet équipement
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