Microscopie à force atomique (AFM)

Description

FABRICANT Veeco
MODÈLE Dimension 3000

Analyse :

Topographie de surface. Procédés disponibles :

  • Contact mode
  • Tapping mode
  • Image topographique et de phase

Caractéristiques :

  • Platine de 6 pouces (150 mm)
  • Platine XY avec positionnement manuel
  • Contrôleur Nanoscope IIIa
  • Logiciel : Nanoscope