Microscopie à force atomique (AFM)

Description

FABRICANT Park System
MODÈLE NX 20

Analyse :

Automatisation des mesures de rugosité et de topographie de surface. Procédés disponibles :

  • Contact mode
  • Tapping modeImage topographique et de phase
  • True Non-contact mode
  • PinPoint nanomechanical mode

Caractéristiques :

  • Porte-échantillon de 200 mm
  • Mouvements X, Y et rotations motorisées
  • Grandeur maximum d’image 100 um x 100 um
  • Mesure maximale en Z de 15µm
  • Logiciel : SmartScan
  • Logiciel : Park XEA pour l’automatisation