Microscopie à Force Atomique (afm) (CPII)
Microscopie à Force Atomique (afm) (CPII)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Veeco |
|---|---|
| MODÈLE | CPII |
Analyses
- Modes : contact, contact intermittent (tapping), non-contact
Applications
- Image de phase, microscopie à force latérale, microscopie à force magnétique, microscopie à force électrique, imagerie en milieu liquide
Pour utiliser cet équipement
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