Microscopie à Force Atomique (afm) (NanoMan VS)

Informations complémentaires

Échantillons

• Samples size : 150 mm maximum

Analyses

• Mode : contact, non-contact, force latérale, image de phase, force magnétique, force électronique, potentiel de surface et résonance de torsion.
• Plage de balayage : 90 µm (X-Y), 9 µm (Z)
• Nombre de points de mesure par image : 5120 x 5120
• Résolution : 16 bits
• Platine motorisée : plage d’opération de 120 x 100 mm

Applications

• Analyse des petites surfaces de phase
• Validation de surfaces finies de photorésines à l’échelle nanométrique
• Analyse de surface de matériaux durs

Caractéristiques

• Bruit en Z : moins de 0.1 nm RMS
• Résolution unidirectionnelle : 2 µm
• Vitesse et dimensions de balayage ajustables
• Taille d’échantillons : 150 mm maximum
• Épaisseur : 12 mm maximum
• Limitations: certains matériaux semi-cristallins peuvent être analysés
• Incompatibilité: tous les matériaux mous