Microscopie à Force Atomique (afm) (Nanoscope IIIa)
Microscopie à Force Atomique (afm) (Nanoscope IIIa)
Informations complémentaires
| FABRICANT | Veeco |
|---|---|
| MODÈLE | Nanoscope IIIa |
Analyses
- Modes : contact, contact intermittent (tapping)
- Plage de balayage : 120 µm (X-Y), 5 µm (Z)
- Résolution en profondeur : 0.01 nm
- Résolution latérale : 0.1 nm
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