Microscopie Électronique à Balayage (sem) (JSM 7600 TFE)

Informations complémentaires

Appareil unique au Canada :

• Muni d’un canon à effet de champs (FEG) permettant l’observation d’échantillons non-conducteurs

Analyses

• Imagerie de surface à haute résolution
• Résolution latérale : 1.4 nm à 1 kV et 1.0 nm à 15 kV

Caractéristiques

• Instrument unique au Canada permettant l’observation d’échantillons non-conducteur à haute résolution

Variantes

Détection d’électrons rétrodiffusés pour l’analyse de phase

• Résolution latérale : 3 nm à 1 kV
• Porte-échantillon pour échantillons non-conducteurs

Analyse dispersive en énergie (EDS) – détermination de la composition chimique

• Semi-quantitatif et quantitatif (avec standards)
• Cartographie possible
• Résolution latérale : de l’ordre du micromètre (dépend du matériau et de la tension d’accélération)
• Applications : cartographie des éléments, quantification de la composition chimique d’une phase
• Limite de détection : près de 0.1% atomique

Analyse dispersive en longueur d’onde (WDS) – détermination de la composition chimique

• Semi-quantitatif et quantitatif (avec standards)
• Cartographie possible
• Résolution latérale : de l’ordre du micromètre (dépend du matériau et de la tension d’accélération)
• Applications : cartographie des éléments, quantification de la composition chimique d’une phase
• Limite de détection : près de 0.1% atomique