Diffractomètre à rayons X (DRX)

Description générale :

Le diffractomètre à rayons X Malvern Panalytical (Empyrean de 3e génération) permet une grande variété de mesures pour tous types d’échantillons (poudres, couches minces, nanomatériaux et les objets solides). De façon non-destructive, cet instrument permet, entre autres, l’identification et la quantification de phases cristallines, l’analyse de l’ordre atomique à courte et longue portée, la caractérisation dimensionnelle et structurale de nanomatériaux, la détermination de l’épaisseur des couches ou encore la rugosité de la surface.

Applications :

• Identification et quantification des phases cristallines de différents solides par diffraction des rayons X de poudres. Analyse de minéraux, de métaux, de céramiques, de films minces, d’échantillons fondus, et de gros échantillons en réflexion. Analyse de matériaux légers, des gels, et de matériaux sensibles à l’air en transmission.
• Très petits échantillons ou des échantillons non homogène avec une composition, une contrainte de réseau ou une orientation variable des cristallites, et films minces par microdiffraction
• Identification et quantification des phases pour les matériaux polycristallins et la mesure de contraintes résiduelles dans les couches minces par diffraction à incidence rasante des rayons X (GIXRD).
• Étude des structures, des surfaces et des interfaces en couches minces par réflectométrie des rayons X (XRR).
• Analyse de polymères, de verres, de liquides et de certains produits pharmaceutiques (distances interatomiques et les nombres de coordination) par diffusion totale ou l’analyse par fonction de distribution de paires (PDF).
• Caractérisation structurelle des nanomatériaux permettant d’obtenir des informations comme la distribution des tailles de nanoparticules, leur forme et leur structure par diffusion de rayons X aux petits angles et aux grands angles (SAXS/WAXS).