Microscope électronique à balayage (MEB) avec EDS
Microscope électronique à balayage (MEB) avec EDS
| FABRICANT | FEI |
|---|---|
| MODÈLE | Inspect F50 |
Description générale :
Le microscope électronique à balayage (MEB) est une technique d’imagerie puissante permettant de caractériser la morphologie (forme, dimension, arrangement de particules, etc.), la texture superficielle, ainsi que la composition chimique (avec un détecteur EDS).
Applications :
Cette technique permet d’analyser d’une multitude d’échantillons de toutes formes, compositions et tailles pour des échantillons stables sous vide.
Caractéristiques techniques :
Méthode non destructrice pour des matériaux conducteurs mais destructrice pour des matériaux isolants puisque les échantillons doivent être recouverts d’une mince couche conductrice (carbone ou alliage de palladium).
- Grossissements pratiques de 10X à 300.000X.
- Images en électrons secondaires (SE), rétrodiffusés (BSE) ou cartographie rayons-X.
- Spectromètre pour l’analyse des rayons-X par dispersion de l’énergie EDAX.
- Imagerie digitalisée.
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