Microscope électronique à balayage sur table et EDX
Microscope électronique à balayage sur table et EDX
| FABRICANT | Jeol |
|---|---|
| MODÈLE | Neoscope III |
Description générale :
Cet appareil est conçu pour l’observation de la microstructure d’échantillons en utilisant comme source de lumière un faisceau d’électrons accéléré de 5 ou 15kV. Le microscope est équipé de deux détecteurs afin de détecter les électrons rétrodiffusés et secondaires (BSE et SE) et fournir une image avec une bonne profondeur de champ. Les échantillons observés peuvent être solides (films, poudre, morceaux, …) mais l’appareil n’a pas les capacités d’observer d’échantillon liquides. Cet appareil est de plus doté d’un système de détection EDX (analyse élémentaire) afin de détecter les différents atomes présents à la surface de l’échantillon observé. Il est également possible de faire une cartographie atomique de la surface avec ce détecteur supplémentaire et d’avoir une idée de la concentration de chaque atome sur la surface analysée.
Applications :
Observations électroniques d’échantillons solides, microstructure, analyses EDX.
Caractéristiques :
- Dimensions maximales des échantillons : 80mm x 50mm (DxH)
- Voltages : 5, 10 et 15 kV
- Détecteurs : BSE, SE et EDX
- Grossissement : de X10 à X100,000
- Pixels d’enregistrement : 4063 x 3072 pixels
Pour utiliser cet équipement
Les équipements présents sont accessibles à la communauté de recherche académique et industrielle.
Afin de connaître les modalités d’utilisation et les disponibilités, veuillez remplir le formulaire ci-dessous. Après analyse de votre demande, nous prendrons rapidement contact avec vous, afin de vous proposer la meilleure solution disponible.